-
HR-ICP-MS The Attom ES is a double focussing inductively coupled plasma mass spectrometer that has been purpose designed to be the ultimate tool for rapid and precise isotope ratio and quantitative analysis of trace elements in solid and liquid matrices. The unique fast scanning techniques, coupled with a novel wide dynamic range detector system make the Attom ES a powerful analytical tool. Furthermore, the flexible high resolution slit system offers the best solution between sensitivity and resolution for unambiguous determinations in complex matrices.- Fast, high sensitivity imaging with 73 elements measured in <105ms
- Fastest data acquisition for nanoparticles at 10-70μs dwell times
- Most flexible yet easy to use data processing with Nu Quant
-
MC-ICP-MS The Nu Plasma 1700 is a unique High Resolution Multi Collector ICP-MS from Nu Instruments providing the ultimate in high resolution isotope ratio measurements. The instrument has been designed with a high dispersion and large geometry to provide a no compromise high resolution capability whilst still maintaining flat top peaks for high precision measurements with minimal loss in sensitivity. Peak flat at 5,000 resolution The Nu Plasma 1700’s large geometry uniquely allows resolutions of >5,000 while maintaining peak flat. Each of its sixteen Faraday detectors and five full size discrete dynode multipliers have independent variable high-resolution slits allowing different resolutions on individual detectors. When the highest performing MC-ICP-MS is required, the Nu Plasma 1700 is the no compromise solution.
- Large geometry MC-ICP-MS with the highest resolution
- Independently-adjustable collector slits for True high resolution
- Superior abundance sensitivity
-
MC-ICP-MS Plasma 3 is a third generation Multi Collector ICP Mass Spectrometer (MC-ICP-MS), designed to provide the best possible precision and accuracy for simultaneous isotopic ion detection. The instrument retains the unique, patented, variable dispersion Zoom lens enabling the simultaneous measurement of the isotopes of elements from lithium to the actinide series on its static collector array of sixteen Faraday detectors and up to six ion-counting detectors. Ground potential analyser operation provides ease of use and maintenance with excellent reliability. While continuing to provide the highest precision, accuracy and flexibility that previous generations are renowned for, Plasma 3 adds new refinements and innovations to maintain its position as the instrument of choice for Earth Sciences, Environmental Science, Nuclear Research, Archaeology, Forensics, Biochemistry and Biomedical Science.
- Variable zoom optics for instantaneous switching between isotopic systems during analysis
- Multiple Daly detectors for ultimate ion counting performance
- Sixteen Faraday cups for simultaneous detection of systems with even the most isotopes
-
Collision Cell MC-ICP-MS Sapphire from Nu is a next generation Multi-Collector ICP-MS. The collision cell capable instrument builds on the field proven Nu Instruments Multi-Collector ICP-MS platform (with over 170 installed instruments worldwide) to add unrivalled capabilities. The Sapphire features high and low energy switchable ion beam paths that enable the user to operate the instrument as a traditional Multi-Collector ICP-MS with no compromise in performance. In addition, the Sapphire can also be switched into Collision-Cell mode, where the ion beam is directed into a hexapole collision cell for the measurement of isotope systems where interferences cannot be resolved using high resolution, such as Calcium. Nu Instruments continue to lead innovation in Isotope Ratio analysis, with the Sapphire bringing additional capability to Multi-Collector ICP-MS allowing the measurement of even more isotope systems by this now well-established technique.
- Low energy path with collision/reaction cell to remove interfering species for difficult applications
- High energy path for classical MC-ICP-MS applications
- Uncompromised isotope ratios
-
Time-of-Flight ICP-MS Vitesse is a time-of-flight inductively coupled plasma mass spectrometer that has been purpose designed to be the ultimate tool for high speed multi-element applications such as laser ablation imaging and nanoparticle analysis. High speed conventional ICP-MS analysis is also possible with a range of sample accessory devices. Additional flexibility is available with an optional full size quadrupole before the reaction cell to improve the selectivity of the chemistries being used to remove difficult interferences.
- Fastest wide mass range data acquisition for applications such as laser ablation imaging and nanoparticle analysis.
- High sensitivity to probe micron sized trace element features in solid samples and determine the elemental composition of individual nanoparticles.
- High analyte selectivity with a segmented reaction cell optimised for multi-element analysis.
- High physical resolving power Time-of-Flight (TOF) mass spectrometer to give interference free analysis.
- Unique quad, cell, TOF option (QCT) for the ultimate flexibility in removing interferences.
-
D/MAX RAPID II is arguably the most versatile micro-diffraction XRD system in the history of materials analysis. In production for well over a decade and continuously improved during that time period, the success of the D/MAX RAPID II is a testament to the suitability of imaging plate technology for measuring diffraction patterns and diffuse scattering from a wide range of materials. Engineered for Versatility It combines an exceptionally large active-area imaging plate that is sensitive to a wide range of radiation sources with the flexibility to mate it with a large variety of X-ray sources and optics. The nature of the imaging plate detector means that weak measurements can be made easily in the presence of strong measurements. Low Cost of Ownership Combining a well-proven, time-tested design with the lack of a need for calibration means that the RAPID II is a detector that can be maintained in the field with a minimum of downtime. The Proof is in the Results Experiments run on the RAPID II are limited only by the imagination of the researcher. Examples include, phase ID of powder samples, micro-diffraction mapping down to 10 microns, diffuse scattering, fiber diffraction, small molecule structure analysis, stress and texture measurements, etc.
-
A kivételesen jó ár/teljesítmény arányú RIGAKU MiniFlex asztali porröntgen diffraktométer valódi áttörést jelentett a labortechnológiában: a korábbi készülékeknél jóval olcsóbban és hatékonyabban alkalmazhatják az ipari laboratóriumok, egyetemek és kutatóintézetek. Az egyszerű és olcsó üzembe helyezés, az alacsony energiaszükséglet, a kompakt méret és a különösen alacsony karbantartási igény révén Magyarországon is gyorsan népszerűvé vált főleg gyógyszeripari polimorf és más rutin vizsgálatok, illetve egyetemi oktató és kutató alkalmazásokhoz. Röntgen diffrakció minden eddiginél egyszerűbben és olcsóbban - Még nagyobb teljesítmény! - Még nagyobb flexibilitás! - Még több alkalmazás! A korábbi sikereken felbuzdulva, 2016-ben a RIGAKU, a még nagyobb teljesítmény, a még nagyobb flexibilitás és a készülék alkalmazhatóságának kiterjesztése érdekében a készüléket továbbfejlesztve piacra hozta a Miniflex készülék 6. generációs modelljét. Az új készülék nagyobb teljesítménye - 600W - és nagyobb felbontása révén valódi laboratóriumi teljesítményt kínál a az eddigi rutin alkalmazásokon kívül. Mindezt úgy, hogy kompakt mérete és mind beszerzési ára, mind üzemeltetési költsége nem változott az előző verzióhoz képest. Az egyedülálló teljesítményű, nagy laboratóriumi SMARTLAB készülék mellett, így a Miniflex készülék egy nagyon jó ár/teljesítmény arányú alternatívát kínál standard porröntgen diffrakciós alkalmazásokhoz Mindezekkel együtt talán túlzás nélkül állítható, hogy az Új MiniFlex készülék a világ legegyszerűbben használható röntgen diffraktométere. Telepítése nagyon egyszerűen elvégezhető, használatához külső vízellátást nem igényel . Egy gombnyomással üzemeltethető , és az előre beállított optikai rendszere, könnyen kezelhető szoftvere révén néhány perc alatt is hatékony és gyors diffrakciós mérést tesz lehetővé. Kompakt mérete – akár hordozható is – illetve minimális helyigénye miatt laboratóriumban, gyártósoron, előadóteremben vagy akár külső terepen is praktikusan használható. Bővebben...
-
3D Röntgen CT vagy Röntgen mikroszkóp? 1 µm alatti felbontás vagy jó kontraszt könnyű mátrixok esetén is? NINCS SZÜKSÉG KOMPROMISSZUMRA A RIGAKU NANO3DX – Abszolút új módszert és koncepciót jelent a röntgen tomográfiában, amivel egyszerre lehetséges 2D/3D szerkezet meghatározás és képalkotás nanométeres tartományban kivételes kontraszttal könnyű mátrixok esetében, ami konvencionális CT berendezésekkel nem lehetséges. KONTRASZT A konvencionális CT berendezésekkel szemben változtatható energiájú, monokromatikus Röntgen gerjesztés a kiváló kontrasztért RIGAKU forgóanódos röntgenforrással három különböző energiával, gerjesztő anóddal (Mo, Cr, Cu) – extrém nagy intenzitással!A megfelelő gerjesztő energia kiválasztásával az alacsony rendszámú közegek is jól megkülönböztethetőek, legyen szó akár polimer, papír, szénszálas anyagok, kompozitok vagy akár lágyszövetek szerkezetének 3D megjelenítéséről. A hagyományos ipari CT készülékeknél, a nagy gyorsító feszültséggel, gerjesztő energiával a nehezebb, nagyobb rendszámú anyagok megkülönböztetésére és megjelenítésére helyezik a hangsúlyt. Ebből adódóan a könnyű (alacsonyabb rendszámú) anyagoknál a kontraszt drasztikusan romlik. A RIGAKU NANO3DX készülékben alkalmazott alacsony energiájú, de extrém nagy intenzitású változtatható monokromatikus nyalábbal olyan részletek is elérhetőek lesznek, amik hagyományos CT technikával nem. A megfelelő anód megválasztásával, így a gerjesztési energia optimalizálásával a könnyű anyagok esetén is 1 µm-nél részletesebb 2D/3D szerkezet meghatározás, és megjelenítés lehetséges.
-
Teljesen automatizált diffraktométer nanotechnológiai kutatáshoz A SMARTLAB ultra nagyfelbontású diffraktométer a RIGAKU legkorszerűbb, teljesen automatizált moduláris kialakítású XRD rendszere. A berendezés magába foglal egy nagyfelbontású Theta-Theta goniométer vezérlő rendszert, a RIGAKU által kifejlesztett és szabadalmaztatott CBO-t (Cross Beam Optics). egy detektor oldali In-Plane rendszert valódi In-Plane méréshez, opcionálisan egy 9 kW-os forgóanódos röntgengenerátort és egy teljesen automatizált optikai rendszert, mely kevésbé tapasztalt felhasználók számára is lehetővé teszi a legbonyolultabb mérések elvégzését is. A SMARTLAB egy valóban új dimenziót nyit meg vékonyrétegek vizsgálatánál és nanotechnológiai alkalmazások esetén. A SAMRTLAB-ban alkalmazott, a RIGAKU forradalmian új "Guidance" vezérlő szoftvere és a beépített mérési módszerek, modulok segítségével lehetővé válik vékony rétegek, nano-kompozitok, porok, folyadékok teljesen automatizált mérése. Beépített modulok segítségével a felhasználó minden eddiginél egyszerűbben végezheti el a legbonyolultabb beállításokat igénylő méréseket is, mint pl. por diffrakció, surló beeséses diffrakció (GXRD), in-plane diffrakció, reflektivitás (XRR), kisszögű röntgenszórás (SAXS) vizsgálatok.
-
XtaLAB Synergy-ED is a new and fully integrated electron diffractometer, creating a seamless workflow from data collection to structure determination of three-dimensional molecular structures. The XtaLAB Synergy-ED is the result of an innovative collaboration to synergistically combine our core technologies: Rigaku’s high-speed, high-sensitivity photon-counting detector (HyPix-ED) and state-of-the-art instrument control and single crystal analysis software platform (CrysAlisPro for ED), and JEOL’s long-term expertise and market leadership in designing and producing transmission electron microscopes. The key feature of this product is that it provides researchers an integrated platform enabling easy access to electron crystallography. The XtaLAB Synergy-ED is a system any X-ray crystallographer will find intuitive to operate without having to become an expert in electron microscopy.The XtaLAB Synergy-ED was designed to address the increasing need to investigate smaller and smaller samples in structural research. With X-ray crystallography, the smallest possible crystal dimension is 1 micron, and only then when utilizing the brightest X-ray sources and noise free detectors. However, in recent years, there has been an increasing need for the structure analysis of substances that only form microcrystals, crystals that are only a few hundred nanometers or less in size. In recent years, a new analytical method, MicroED, has been developed that uses electron diffraction on a TEM electron microscope to measure 3D molecular structures from nanocrystalline materials. Researchers developing this technique have relied on customized electron microscopes and a combination of microscopy software for measuring diffraction data, and public domain X-ray crystallography software for data processing and structure determination. Switching a microscope configuration between imaging and diffraction can be time-consuming, making the sharing of an instrument sometimes difficult. To address these issues, Rigaku and JEOL started a collaboration to develop a dedicated single crystal structure analysis platform for nanocrystals utilizing key technologies from both companies. The result is the XtaLAB Synergy-ED, a dedicated electron diffractometer that is operated by the same control software that is used to run Rigaku’s X-ray diffractometers and includes a complete integrated pipeline from sample selection and diffraction measurement to data processing and structure solution. This instrument can easily be installed in an existing X-ray crystallography facility, where researchers and students will be able to easily master the MicroED technique since the software workflow is the same as for an X-ray diffractometer. Having such an instrument installed in an X-ray facility immediately provides structure determination for materials that only form nanocrystals.
-
Felső optikás WDXRF spektrométer porok, tabletták közvetlen vizsgálatához A „Tube above” technológia és a 30μm végablakos Rtg cső alkalmazásának előnyei. A RIGAKU cég legújabb nagy teljesítményű hullámhossz diszperzív XRF készüléke, egy forradalmian új „felső optikás” elrendezésű WDXRF spektrométer, mely lehetővé teszi por minták, tabletták közvetlen mérését anélkül, hogy a mintából bármilyen szennyeződés jutna az opitkai rendszerbe. Az optikai rendszer és a teljes gerjesztő rendszer minta feletti elrendezésével elkerülhető minden olyan szennyeződési és karbantartási munka, mely a hagyományos WDXRF spektrométereknél rendszeres problémát, rendszeres leállást és karbantartást jelent. A RIGAKU másik fejlesztése, a ZSX PRIMUS IV WDXRF spektrométerben alkalmazott, a piacon megtalálható legvékonyabb, 30μm-es végablakos Rtg cső, melynek legfontosabb előnye az általában alkalmazott standard 75μm-es végablakkal szemben, hogy jelentősen alacsonyabb kimutathatósági határértékeket biztosít könnyű elemek mérése esetén.
