-
D/MAX RAPID II is arguably the most versatile micro-diffraction XRD system in the history of materials analysis. In production for well over a decade and continuously improved during that time period, the success of the D/MAX RAPID II is a testament to the suitability of imaging plate technology for measuring diffraction patterns and diffuse scattering from a wide range of materials. Engineered for Versatility It combines an exceptionally large active-area imaging plate that is sensitive to a wide range of radiation sources with the flexibility to mate it with a large variety of X-ray sources and optics. The nature of the imaging plate detector means that weak measurements can be made easily in the presence of strong measurements. Low Cost of Ownership Combining a well-proven, time-tested design with the lack of a need for calibration means that the RAPID II is a detector that can be maintained in the field with a minimum of downtime. The Proof is in the Results Experiments run on the RAPID II are limited only by the imagination of the researcher. Examples include, phase ID of powder samples, micro-diffraction mapping down to 10 microns, diffuse scattering, fiber diffraction, small molecule structure analysis, stress and texture measurements, etc. -
A kivételesen jó ár/teljesítmény arányú RIGAKU MiniFlex asztali porröntgen diffraktométer valódi áttörést jelentett a labortechnológiában: a korábbi készülékeknél jóval olcsóbban és hatékonyabban alkalmazhatják az ipari laboratóriumok, egyetemek és kutatóintézetek. Az egyszerű és olcsó üzembe helyezés, az alacsony energiaszükséglet, a kompakt méret és a különösen alacsony karbantartási igény révén Magyarországon is gyorsan népszerűvé vált főleg gyógyszeripari polimorf és más rutin vizsgálatok, illetve egyetemi oktató és kutató alkalmazásokhoz. Röntgen diffrakció minden eddiginél egyszerűbben és olcsóbban - Még nagyobb teljesítmény! - Még nagyobb flexibilitás! - Még több alkalmazás! A korábbi sikereken felbuzdulva, 2016-ben a RIGAKU, a még nagyobb teljesítmény, a még nagyobb flexibilitás és a készülék alkalmazhatóságának kiterjesztése érdekében a készüléket továbbfejlesztve piacra hozta a Miniflex készülék 6. generációs modelljét. Az új készülék nagyobb teljesítménye - 600W - és nagyobb felbontása révén valódi laboratóriumi teljesítményt kínál a az eddigi rutin alkalmazásokon kívül. Mindezt úgy, hogy kompakt mérete és mind beszerzési ára, mind üzemeltetési költsége nem változott az előző verzióhoz képest. Az egyedülálló teljesítményű, nagy laboratóriumi SMARTLAB készülék mellett, így a Miniflex készülék egy nagyon jó ár/teljesítmény arányú alternatívát kínál standard porröntgen diffrakciós alkalmazásokhoz Mindezekkel együtt talán túlzás nélkül állítható, hogy az Új MiniFlex készülék a világ legegyszerűbben használható röntgen diffraktométere. Telepítése nagyon egyszerűen elvégezhető, használatához külső vízellátást nem igényel . Egy gombnyomással üzemeltethető , és az előre beállított optikai rendszere, könnyen kezelhető szoftvere révén néhány perc alatt is hatékony és gyors diffrakciós mérést tesz lehetővé. Kompakt mérete – akár hordozható is – illetve minimális helyigénye miatt laboratóriumban, gyártósoron, előadóteremben vagy akár külső terepen is praktikusan használható. Bővebben...
-
Teljesen automatizált diffraktométer nanotechnológiai kutatáshoz A SMARTLAB ultra nagyfelbontású diffraktométer a RIGAKU legkorszerűbb, teljesen automatizált moduláris kialakítású XRD rendszere. A berendezés magába foglal egy nagyfelbontású Theta-Theta goniométer vezérlő rendszert, a RIGAKU által kifejlesztett és szabadalmaztatott CBO-t (Cross Beam Optics). egy detektor oldali In-Plane rendszert valódi In-Plane méréshez, opcionálisan egy 9 kW-os forgóanódos röntgengenerátort és egy teljesen automatizált optikai rendszert, mely kevésbé tapasztalt felhasználók számára is lehetővé teszi a legbonyolultabb mérések elvégzését is. A SMARTLAB egy valóban új dimenziót nyit meg vékonyrétegek vizsgálatánál és nanotechnológiai alkalmazások esetén. A SAMRTLAB-ban alkalmazott, a RIGAKU forradalmian új "Guidance" vezérlő szoftvere és a beépített mérési módszerek, modulok segítségével lehetővé válik vékony rétegek, nano-kompozitok, porok, folyadékok teljesen automatizált mérése. Beépített modulok segítségével a felhasználó minden eddiginél egyszerűbben végezheti el a legbonyolultabb beállításokat igénylő méréseket is, mint pl. por diffrakció, surló beeséses diffrakció (GXRD), in-plane diffrakció, reflektivitás (XRR), kisszögű röntgenszórás (SAXS) vizsgálatok.
