röntgen spektrométer polarizált és direkt gerjesztéssel polarizalt edxrf

EDXRF röntgen spektrométer – SPECTRO XEPOS

SPECTRO XEPOS EDXRF röntgen spektrométer – Polarizált, optimalizált gerjesztés ismeretlen minták gyors, pontos elemzéséhez.

A SPECTRO XEPOS EDXF spektrométer egy valóban sokoldalú, multifunkcionális EDXRF spektrométer. Kivételes optikai rendszere polarizáló és másodlagos targetek használatával optimalizálja a röntgen gerjesztést. Maximum 12 férőhelyes mintatartóval felszerelhető és egy különlegesen intelligens szoftver modulok teszik egyedülállóvá. Ezek együttesen biztosítják a SPECTRO XEPOS kivételes érzékenységét és pontosságát a teljes Na-U elemtartományban a legkülönbözőbb típusú minták esetében is. A készülék adott alkalmazásokra kifejlesztett gyári kalibrációs csomagokkal is megrendelhető.

Ennek a különleges optimalizált gerjesztésű EDXRF spektrométernek az alkalmazási területei között kiemelendők azok a területek, ahol nem “jól definiált” minták elemzésére van szükség, hanem többnyire ismeretlen, nehezen meghatározható, vagy változó összetételű mintákat kell elemezni. Ilyen alkalmazási területek pl. a hulladékok, talaj, iszapok, olajok, salakok, tűzálló anyagok elemzése vagy elektronikai alkatrészek RoHS vizsgálata.

Kategóriák: Ásvány- és Kőzettan, EDXRF spektrométerek, Főoldal, Gyógyszeripar, Környezetvédelmi analitika, Olajipar

Leírás
Információ kérése

Leírás

A SPECTRO XEPOS EDXRF röntgen spektrométer kifejezetten nagy kihívásokat jelentő alkalmazásokra lett kifejlesztve. Egy új teljesítmény szintet jelent az energia diszerzív röntgen spektrometria területén.

A SPECTRO XEPOS röntgen spektrométer kivételes érzékenysége révén mintegy háromszoros javulást jelent a pontosság tekintetében – mely egyedülálló teljesítményt jelent mind nyomelem analízis, mind főkomponensek mérése során.
Minden eddiginél jobb kimutathatósági határok: Adaptív gerjesztési feltételek, egyedülálló bináris ötvözet anód, és nagyteljesítményű detektor rendszer, mely révén extré nagy beütések kezelhetők.
Ismeretlen minták mérésében a tökéletesség: A Turboquant II szoftver, mely a SPECTRO most már több, mint 10 éves fejlesztésének eredményeként ismeretlen minták, kalibráció nélküli mérését is rendkívül pontosan teszi lehetővé. Porok, folyadékok, tömbi minták vagy minta típus szerint növények, műanyagok, olajak, kőzetek, környezetvédelmi analitika, pl. talaj minták vagy éppen üveg minták esetén is tökéletesen használható.

További EDXRF röntgen spektrométerek

Elérhető gyári cikkek:

SPECTRO FOCUS Elemental Analysis in Forensic Science (PDF, en)
Whitepaper Elemental Compliance Screening (PDF, en)
SPECTRO FOCUS Environmental Screening (PDF, en)
SPECTRO FOCUS Waste Oil Analysis (PDF, en)
White Paper: Elemental Impurities in Pharmaceutical Products (PDF, en)
White Paper: Elemental Analysis of Airborne Particles (PDF, en)
White Paper: Five reasons for upgrading to a next-generation ED-XRF analyzer
White Paper: Surprising New Capabilities of ED-XRF Technology
White Paper: Simple, Easy, Powerful Identification Software for XRF Spectrometers
White Paper: Mitigating Matrix Effects with Advanced Spectra-Handling Functionality When Using XRF for High-Accuracy Elemental Analysis (PDF, en)
Whitepaper: New Performance and Scope for Elemental Analysis in Academia
Analyzing Precious Metals (PDF, en)
White Paper: Recent Advances in Elemental Analysis for the Lithium Ion Battery Supply Chain
White Paper: X-ray Fluorescence Analysis of Polymers
White Paper: The XRF Principle: The Fundamentals of Energy Dispersive X-ray Fluorescence Technology (PDF, en)

Elérhető gyári alkalmazási riportok:

Application Brief: Combined Application for the Analysis of 27 Elements in Various Types of Petrochemical Products
Application Brief: Analyzing Trace Elements in Pressed Pellets of Geological Materials Using ED-XRF (XRF-39-AB)
Application Brief: High Precision Analysis Using Energy-Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry (XRF-104-AB)
Application Brief: Analyzing Blast Furnace Slag Using ED-XRF (XRF-6-AB)
Application Brief: Elemental Analysis of Airborne Particles Using ED-XRF (XRF-100-AB)
Application Brief: Analysis of Minerals Containing Fluorspar – Screening of Fluorine Content by ED-XRF (XRF-121)
Application Brief: Analysis of Fluorine Content in Glass by ED-XRF (XRF-119)
Application Brief: Analysis of Secondary Components in Iron Ore and Iron Sinter (XRF-122)
Application Brief: Bio-Geochemistry – Analysis of Minor and Trace Elements in Peat Samples (XRF-120)
Application Brief: Analysis of Plant Materials for Toxic and Nutritional Elements Using the SPECTRO XEPOS (XRF-125)
Application Brief: Analysis of plant nutrients, trace elements and heavy metals in fertilizers (XRF-116)
Application Brief: Analysis of Crude Oil Using ED-XRF (XRF-128)
Application Brief: Analysis of Trace Elements and Fluorine in Pressed Pellets of Geological Materials
Application Brief: Bio-Geochemistry: Analyzing Trace Elements in Sediment Using ED-XRF
Application Brief: Analysis of Sulfur and Trace Element Content in FAME (XRF-93-AB)
Application Brief: Analysis of Cement According to ASTM C-114
Application Brief: Analysis of Raw Material Prepared as Fused Bead in the Cement Industry
Application Brief: Analysis of Sulfur in Petroleum and Petroleum Products According to ASTM D4294 With a Benchtop ED-XRF Spectrometer
XRF-90-AB: Process Control During the Manufacture of Cosmetics Using ED-XRF
XRF 112: Trace Elements in Cocoa
XRF 91-AB: Analysis of Food Using ED-XRF
XRF-92-AB: Screening and Quantification for Heavy Metals in Cosmetics Using ED-XRF
XRF 102-AB: Compliance With 21 CFR Part 11 Using SPECTRO XRF Analyzers With XRF Analyzer Pro Software
XRF 108: Analysis of Cement according to ASTM C-114
XRF 21: Analysis of Polymer Granulate According to the RoHS Directive