Roncsolás mentes EDXRF elemanalízis nagyobb minták, felületek kis pontjainak vizsgálatához, vagy komplett elemeloszlás térkép felvételéhez.
A SPECTRO MIDEX mikro-XRF röntgen spektrométert olyan speciális ipari és kutatási alkalmazásokra fejlesztették ki, ahol a mintákat roncsolás mentesen kell analizálni és fontos a megfelelő érzékenység, valamint szükség van arra, hogy a minta felületén kisebb pontok egymástól függetlenül is elemezhetők legyenek.
A készülék mindezen feltételeknek megfelel, és a felhasználói visszajelzések alapján olyan optimalizált megoldás született, amely ezeket a feladatokat költséghatékonyan megoldja. Következésképpen a SPECTRO MIDEX EDXRF spektrométer az EDXRF technika egy új alkalmazási területét nyitja meg a módszerre jellemző rendkívül egyszerű és érzékeny mérési lehetőségével a Na-U elemtartományban.
Jelenleg a SPECTRO MIDEX ötödik generációs változata elérhető, melyben a kisméretű pontok gyors, roncsolás mentes vizsgálata, vagy minták nagyobb felületén történő elem eloszlás vizsgálata minden eddiginél egyszerűbben elvégezhető. Rendkívül nagy mintakamrájának köszönhetően akár 233 x 160 mm-es felületek is vizsgálhatók. Ebből adódóan pl. komplett áramköri panelek vagy elektronikai alkatrészek RoHS vizsgálata is elvégezhető a készülékkel.
