Forradalmi MultiView technológia – valódi axiális és valódi radiális plazma megfigyelés egyetlen készülékben
A SPECTRO ARCOS ICP-OES spektrométer egy teljesen új szintet biztosít a legnagyobb kihívásokhoz is ipari és akadémiai elemanalitikai, nyomelem analitikai feladatokhoz a legkülönbözőbb alkalmazási területeken a vegyipartól, az olajiparon át a fémiparig.
A készülék a SPECTRO legújabb forradalmian új “MultiView” plazma interfész technológiájával egy eddig soha nem látott megoldást kínál valódi axiális és valódi radiális megfigyelés biztosítására egyetlen készüléken belül. A duális megfigyeléssel ellentétben, ebben a készülékben a MultiView mechanika segítségével a felhasználó kevesebb, mint két perc alatt képes a torch elforgatására, így valódi axiális és valódi radiális plazma megfigyelés mód közötti váltásra.
A készülék és a MultiVew technológia lelke a készülékben alkalmazott, forradalmian innovatív generátor. Ez az egyedülálló, kompakt, extrém módon robusztus komponens egy új, LDMOS technológián alapuló fejlesztés, mely a legnagyobb plazma teljesítmény biztosítására képes ma, lehetővé téve olyan extrém minták, mátrixok kezelését is, amelyek ICP-OES technikával történő mérése eddig lehetetlen volt.
A SPECTRO ARCOS tervezéséből adódóan kivételesen alacsony üzemeltetési költség érhető el a hosszú, megbízható élettartam alatt. Modern ergonómikus kialakítása mögött olyan egyedülálló technológiai fejlesztések vannak, mint a SPECTRO UV-PLUS rendszere, mely révén a készülék zárt optikai rendszere nem igényel semmilyen külső gáz öblítést, vagy a SPECTRO léghűtéses OPI-Air optikai plazma interfésze, mely révén a készülékhez semmilyen külső vízhűtésre nincs szükség, ami üzemeltetés és szerviz szempontjából rendkívül előnyös. Végezetül a SPECTRO ARCOS egyedülálló optikai rendszere, mellyel a 130-770nm hullámhossz tartomány egyedülálló szimultán mérésére lehetséges, unikális alkalmazási területeket nyit meg, melyek más ICP-OES készülékkel nem elérhetők.
A SPECTRO ARCOS mellett a SPECTROGREEN készülék környezetvédelmi alkalmazásokhoz nyújt kivételes megoldást az egyedülálló DSOI – Duális radiális plazma megfigyeléssel. Környezetvédelmi és egyéb, komplexebb minták feltárásához pedig a Berghof mikrohullámú feltáró berendezéseit ajánljuk.