A TOF-ICP-MS használata a nanorészecske-elemzés során
A tíz és száz nanométeres méretű kis részecskék elemzése az elmúlt évtizedekben nagy kihívást jelentett. Míg az egy részecske (SP)-ICP-MS sikeres technikának bizonyult, addig a TOF-ICP-MS ma már elismert, hogy a több elemet mérő képességének köszönhetően, amely lehetővé teszi az egyedi részecskék összetételének elemzését és ismeretlen mintákon nem célzott nanorészecske-elemzését, a TOF-ICP-MS változást hoz. Miközben [...]