Röntgen analitikai módszerek nano-technológiai és más anyagtudományi kutatáshoz
A röntgen diffrakciós módszer (XRD) napjaink egyik legfontosabb és legelterjedtebb eszköze minden féle anyag (a folyadékoktól a porokon keresztül a kristályos anyagig) roncsolásmentes vizsgálatához. Az anyagtudományi kutatásban nélkülözhetetlen módszer anyagok nano- és mikro-szerkezetének vizsgálatokhoz. RIGAKU SmartLab a legújabb és legmodernebb nagyfelbontású röntgen diffraktométer ma a világon, mely egyedülálló megoldást kínál a legkülönbözőbb nanotechnológiai alkalmazásokra, legyen szó vékonyréteg diffrakcióról, por diffrakcióról, mikro diffrakcióról, SAXS, GISAXS, XRR, XRD-DSC vagy bármilyen más röntgen diffrakciós alkalmazásról. A készülék kombinálva a Rigaku HyPix-3000 2D detektorral, mely az első valódi, kifejezetten laboratóriumi diffrakciós alkalmazásokhoz kifejlesztett HPAD (Hybrid Pixel Array Detector) detektor, és a RIGAKU nagysikerű 9kW-os forgóanódos röntgenforrással, új lehetőségeket nyit meg az anyagtudományi szerkezet kutatásban.
A RIGAKU egyik legújabb fejlesztésének eredménye a NANO3DX röntgen mikroszkóp, ami tulajdonképpen egy olyan NANO CT berendezés, mely relatíve nagy méretű minták nagy felbontású három dimenziós CT mérését teszi lehetővé mikrométer alatti tartományban. A RIGAKU több, mint 60 éves, röntgen analitikai fejlesztések területén végzett munkájának köszönhetően a röntgen diffrakcióhoz köthető anyagtudományi, nanotechnológiai kutatási módszerek, mint a szemcseméret eloszlás vizsgálatára alkalmas kisszögű röntgen szórás (SAXS) technika, vagy a fémiparban rendkívül fontos maradó feszültség mérés területén is egyedülálló megoldásokkal rendelkezik.
A RIGAKU Oxford Diffraction ma olyan egyedülálló megoldásokat kínál molekula krisztallográfia, protein krisztallográfia, egykristály diffraktometria területén, mely méltán teszi világvezetővé ezen a területen. Egyedülálló home-lab rendszerei ma olyan mérési összeállításokat kínálnak, melyek korábban csak szinkrotronban elérhető teljesítményt hoznak be laboratóriumba.
Elemanalitika területén az anyagtudományi kutatásokban megkövetelt sokoldalúság, multifunkcionalitás és kivételes analitikai teljesítmény követelményeinek is megfelelnek a SPECTRO ICP-OES spektrométerei. A SPECTROGREEN DSOI és a SPECTRO ARCOS Multiview ICP-OES készülékek a kategóriájukban egyedülálló analitikai teljesítménnyel rendelkeznek. Ultra alacsony detektáláshoz a Nu Instruments ICP MS spektrométere olyan forradalmian új fejlesztés, mellyel szimultán módon lehetséges a teljes szervetlen spektrometriai tömegtartomány mérése. Porok, szilárd minták teljes elemanalitikai vizsgálatához a RIGAKU WDXRF spektrométerei az elérhető kimutathatósági határértékeknek és a technikára jellemző gyors, pontos mérésnek köszönhetően rendkívül univerzálisan alkalmazhatók.
A különböző anyagok megfelelő minta előkészítéséhez őrlő készülék, prések, olvasztó készülékek szükségesek, melyek szintén megtalálhatók termékeink között. E mellett a kalibráláshoz szükséges megfelelő minőségű referencia anyagok és a méréshez szükséges fogyóanyagok is elérhetők az XRF felhasználók számára.
